Electron beam testing technology
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York
Plenum Press
c1993
|
| Σειρά: | Microdevices Physics and Fabrication Technologies / Ivor Brodie and Julius J. Muray
|
| Θέματα: |
ΒΚΠ - Πατρα: ALFf
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
621.381 5 THO |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
