Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York
Marcel Dekker Inc.
c1998
|
| Θέματα: |
ΒΚΠ - Πατρα: ALFf
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
621.381 5 DAV |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
