Manufacturing yield evaluation of VLSI/WSI systems
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Los Alamitos, California
IEEE Computer Society Press
1995
|
| Θέματα: |
ΒΚΠ - Πατρα: BSC
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
621.395 C |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
