Atomic Force Microscopy
This book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015)...
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Cham :
Springer International Publishing : Imprint: Springer,
2019.
|
| Έκδοση: | 2nd ed. 2019. |
| Σειρά: | NanoScience and Technology,
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
