A new method to design a class of self-testing embedded circuits [Technical Report] CTI TR.95.10.35
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Patras Greece
Computer Technology Institute
1995
|
| Θέματα: |
| Η περιγραφή δεν είναι διαθέσιμη |
