Accelerated testing statistical modes, test plans, and data analysis
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York
John Wiley and Sons
1990
|
| Σειρά: | Wiley series in probability and mathematical statistics : Applied probability and statistics
|
| Θέματα: |
| Φυσική περιγραφή: | xiv, 601 p. ill. 25 cm. |
|---|
