Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York, NY
Springer Science+Business Media, LLC
2006
|
| Σειρά: | NanoScience and Technology
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/0-387-37231-8 |
