Scanning Microscopy for Nanotechnology Techniques and Applications
| Κύριος συγγραφέας: | Zhou, Weilie |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Wang, Zhong Lin |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
New York, NY
Springer Science+Business Media, LLC
2007
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-39620-0 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Inelastic Light Scattering of Semiconductor Nanostructures Fundamentals and Recent Advances
ανά: SchΓΌller, Christian
Έκδοση: (2006) -
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
ανά: Sikula, Josef
Έκδοση: (2005) -
Carbon Nanotubes
ανά: Popov, Valentin N.
Έκδοση: (2006) -
Device Physics of Narrow Gap Semiconductors
ανά: Chu, Junhao
Έκδοση: (2010) -
Nanotechnology for Electronics, Photonics, and Renewable Energy
ανά: Korkin, Anatoli
Έκδοση: (2010)