System-on-chip test architectures : nanometer design for testability /
| Other Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
|
| Series: | The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
|
| Subjects: |
| Physical Description: | xxxvi, 856 σ. : εικ. ; 25 εκ. |
|---|---|
| Bibliography: | Περιλαμβάνει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο. |
| ISBN: | 9780123739735 (σκληρό εξώφυλλο) |
