Ανάπτυξη και χαρακτηρισμός οξειδίων υψηλής διηλεκτρικής σταθεράς σε διατάξεις MOS p-Ge /
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Thesis Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Greek |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/10889/9195 |
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Thesis Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Greek |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/10889/9195 |